半導(dǎo)體制造過程中所使用的氣體主要分為兩大類:大宗氣體(Bulk Gas)和特種氣體(Special Gas)。大宗氣體(Bulk Gas)主要包括如氮(N2)、氫(H2)、氧(O2)、氬(Ar)和氦氣(He)等空分氣體,以及乙炔(C2H2)和二氧化碳(CO2)等合成氣體。特種氣體則更加多樣化,涉及電子氣體、高純氣體和標(biāo)準(zhǔn)氣體等多個(gè)種類,數(shù)量達(dá)上百種。它們根據(jù)不同的硅片制程階段進(jìn)行使用,以滿足特定的工藝需求。
這些氣體可以按照不同的制程階段來做如下區(qū)分
在半導(dǎo)體制造過程中,對(duì)使用氣體的純度要求極高,通常要達(dá)到5N-6N的級(jí)別。同時(shí)許多金屬元素雜質(zhì)需要被限制在ppb(十億分之一)甚至ppt(萬億分之一)的范圍內(nèi)。此外,對(duì)微粒子顆粒數(shù)的控制也是至關(guān)重要的。
以經(jīng)過純化后的氣體為例,如氧氣(O2),其中的水分(H2O)和其他雜質(zhì)同樣需要被嚴(yán)格控制在ppb級(jí)別。而金屬雜質(zhì)含量的控制對(duì)于半導(dǎo)體制程而言尤為重要,因?yàn)榧词故俏⒘康慕饘匐s質(zhì)也可能對(duì)產(chǎn)品的性能和穩(wěn)定性產(chǎn)生嚴(yán)重影響。如果氣體的純度未能達(dá)到要求,不僅會(huì)導(dǎo)致制程良率的降低,甚至可能擴(kuò)散污染整條產(chǎn)品線,造成巨大的經(jīng)濟(jì)損失。
氣體質(zhì)量分析的挑戰(zhàn)
氣體質(zhì)量分析在半導(dǎo)體制造中占據(jù)著舉足輕重的地位,然而,實(shí)現(xiàn)精確且全面的氣體質(zhì)量分析卻面臨著一系列挑戰(zhàn)。盡管目前已有少數(shù)品牌的分析設(shè)備能夠針對(duì)O2、H2O等關(guān)鍵成分實(shí)現(xiàn)ppb等級(jí)以下的分析能力,但在其他不純物的雜質(zhì)分析方面仍面臨諸多難題。
1. 氣體分析通常需要多種氣象色譜偵測(cè)器的配合,GC-FID、GC-PDHIF、GC-DID、GC-MS、GC-TCD、GC-FPD、GC-PED等
2. 進(jìn)樣管路的設(shè)計(jì)是一項(xiàng)專業(yè)且復(fù)雜的任務(wù)
3. 需要選用特殊的閥件和管件
4. 針對(duì)毒性、爆炸性氣體的專業(yè)取樣技術(shù)
5. 分析后的尾氣無害化處理
6. 其他安全設(shè)施的建設(shè)
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