IV曲線測試，是一種重要的電子元器件性能評估方法，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)，尤其在集成電路失效分析中發(fā)揮著重要作用。它可以用于測試各種類型的半導(dǎo)體器件，例如IC芯片、二極管、晶體管、MOS管、被動(dòng)元器件等。通過IV曲線測試，我們可以快速篩選出不良品，提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。

IV曲線測試原理
IV曲線測試，即電流-電壓特性曲線測試，基于歐姆定律，通過測量不同電壓和電流下的電流和電壓值，繪制出電流與電壓之間的關(guān)系曲線。這種測試可以快速揭示器件的電性失效模式，如短路、斷路、漏電和高阻等異常情況，為后續(xù)失效分析提供重要的數(shù)據(jù)參考。

如何進(jìn)行IV curve曲線測試？

（ 1 ）選擇測試設(shè)備

使用KEITHLEY 2636B數(shù)字電源/ Keysight B1500A和Probe探針臺(tái)搭配對失效器件進(jìn)行腳位連接測試。

2636B數(shù)字電源



Probe探針臺(tái)

（ 2 ）確認(rèn)測試條件

在測試前，確認(rèn)失效器件規(guī)格書、Pin腳定義圖、待測腳位限壓限流值、電壓步進(jìn)Step。

（ 3 ）數(shù)據(jù)處理與分析

測試結(jié)束后，‌對采集到的電流和電壓數(shù)據(jù)進(jìn)行處理和分析，‌繪制出IV特性曲線。‌通過曲線可以直觀地觀察到失效器件在不同電流和電壓下的性能表現(xiàn)。

IV curve曲線測試作用
IV Curve曲線測試在失效分析中主要對失效器件進(jìn)行電性能測試及電性復(fù)現(xiàn)，通過與正常器件的IV曲線對比，可以發(fā)現(xiàn)失效器件的電性差異，從而確定失效的具體模式。

常見的電性失效模式

• 短路
  指電路中的電阻減小，導(dǎo)致電流突然變大，從而改變電流路徑，可能導(dǎo)致設(shè)備或系統(tǒng)的功能異?；驌p壞。
  
  

測試示意圖