2024年12月11-12日，ICCAD-Expo 2024（上海集成電路2024年度產(chǎn)業(yè)發(fā)展論壇暨（第三十屆）中國集成電路設計業(yè)展覽會）在上海隆重舉辦。作為國際公認的測試、檢驗和認證機構，SGS受邀參展，并發(fā)表了主題為《功率器件IOL溝道加熱模式與封裝工藝的潔凈度》的精彩演講，與業(yè)界同仁共同探討最新的行業(yè)趨勢和技術發(fā)展。

SGS展位現(xiàn)場

SGS半導體及可靠性實驗室經(jīng)理Jeffery Xiao發(fā)表了《功率器件IOL溝道加熱模式》主題演講，指出近兩年客戶對功率器件的老化等級要求越來越高，但傳統(tǒng)的IOL測試方法可能因SiC MOSFET器件的閾值電壓VGs(th)漂移而導致測試結果出現(xiàn)偏差，因此現(xiàn)有的AEC-Q101標準已經(jīng)不能滿足客戶對器件高可靠性的要求。SGS提出的溝道加熱IOL測試方法通過施加更大的加熱電流IH，模擬SiC器件在實際應用中的開關工作狀態(tài)，能更準確地評估器件的可靠性。

SGS半導體及可靠性實驗室經(jīng)理Jeffery Xiao發(fā)表主題演講

SGS半導體超痕量分析實驗室經(jīng)理River Lee則分享了《封裝工藝的潔凈度》主題演講。隨著先進封裝技術的快速發(fā)展，微污染控制已成為封裝廠不容忽視的課題。微污染會導致漏電流、線路短路、金屬件腐蝕等問題，嚴重影響產(chǎn)品的可靠性。微污染控制已不再只是前端晶圓制造廠的事務，封裝廠也必須對微污染的防治有所認識。他強調，針對FAB廠的AMC、UPW、CDA的品質應盡早制定監(jiān)控計劃，并提出了對來料化學品及膠水制定來料允收標準的必要性。

SGS半導體超痕量分析實驗室經(jīng)理River Lee發(fā)表主題演講

SGS演講現(xiàn)場

不僅精彩的演講贏得了廣泛贊譽，SGS展位更是吸引了眾多行業(yè)專家和從業(yè)者的目光，成為了展會的一大亮點。

現(xiàn)場咨詢交流

面對絡繹不絕的來訪客戶，SGS團隊始終保持耐心和熱情，細致入微地向客戶介紹服務的細節(jié)及應用場景，包括但不限于AEC-Q車規(guī)認證系列、AQG 324汽車功率模組認證、IEC 60747-17隔離器件認證、綜合失效分析、FA失效分析、潔凈室及來料檢測等半導體全產(chǎn)業(yè)鏈測試認證服務，助力企業(yè)高質量發(fā)展，推動集成電路行業(yè)實現(xiàn)更高水平的技術突破與創(chuàng)新。