yy夜夜草,五月天堂日本影院,天天视频入口一区二区,66亚洲一卡2卡新区成片发布91,久久给合久久之综合,一级色片约会,91福利国产在线观一区二区,久久国产精品无码推油,老汉私人影院永久入口,国产欧美日韩综合精品一区二区三区,91成人免费在线视频,日韩精品久久三区,天天日护士,欧美日韩人人干,欧美大鸡巴久久久久久久久久久,日韩永久精品一区二区p,日日碰狠狠添天天爽无码av

資訊中心
干貨分享 | 電子產品小型化趨勢下，CAF測試如何保障PCB品質？

干貨分享 | 電子產品小型化趨勢下，CAF測試如何保障PCB品質？

原創(chuàng)
2025-02-12 17:00:00
技術文章
作者： SGS_SEMI
訪問次數： 453
點贊： {{ Likes }}

在PCB市場中，電子產品正朝著小型化、高性能化發(fā)展，這使得PCB的線路密度不斷增加，層數增多。在這種趨勢下，CAF現(xiàn)象對PCB可靠性構成重大威脅。當PCB處于潮濕、存在電場的環(huán)境時，離子遷移會引發(fā)樹枝狀導電物生成，造成線路短路，嚴重影響電子產品性能與壽命。

進行CAF測試，能有效評估PCB在實際使用環(huán)境中抵抗離子遷移的能力，幫助企業(yè)篩選出符合可靠性要求的PCB材料和生產工藝，從而降低產品因CAF失效的風險，滿足市場對高品質、高可靠性電子產品的需求。

本文著作權歸SGS所有，商業(yè)轉載請聯(lián)系獲得正式授權，非商業(yè)請注明出處

需要更多信息？

我們最快2小時內聯(lián)系您

手機號碼 電子郵箱

*自動注冊會員，在線查看咨詢進度

 立即咨詢
我已閱讀并同意 隱私政策

發(fā)送成功

您的咨詢信息已收到，我們將盡快與您聯(lián)系！

用戶賬號：{{ form.phone || form.email }}

已為您注冊SGS在線商城會員
可使用賬號快捷登陸

到“我的咨詢”查看咨詢進度

{{countdownTime}}秒后自動跳轉

掃碼關注SGS官方微信公眾號， 回復“0”贏驚喜禮品！