在當(dāng)今復(fù)雜且精密的PCB實際應(yīng)用場景中,確保其可靠性至關(guān)重要?;ミB應(yīng)力測試(IST)與溫度沖擊測試(TC)作為可靠性評估的常用手段,二者在測試對象、原理機制、適配場景以及所遵循的標(biāo)準規(guī)范等維度,都有著極為明顯的區(qū)別。
核心區(qū)別
具體應(yīng)用場景
IST測試的應(yīng)用場景
■ 適用領(lǐng)域
■ 典型測試需求
TC測試的應(yīng)用場景
■ 適用領(lǐng)域
■ 典型測試需求
關(guān)鍵技術(shù)差異總結(jié)
如何選擇測試方法?
選擇IST測試的場景
選擇TC測試的場景
示例對比
總結(jié)