在電子設(shè)備中,高性能印刷電路板(PCB)就如同精密的 “千層蛋糕”,然而,當(dāng)出現(xiàn)層間黏合失效,也就是 “分層爆板” 問題時,輕則導(dǎo)致信號失真,重則使整板報廢。接下來,SGS帶您深入了解分層爆板的成因、檢測技術(shù)以及預(yù)防措施。
什么是PCB分層爆板?
分層爆板(Delamination)指PCB內(nèi)部層壓材料因應(yīng)力、溫度或工藝等問題導(dǎo)致層間分離,同時還可能伴隨板材起泡、開裂甚至斷裂的情況。這不僅影響電路可靠性,更可能引發(fā)設(shè)備短路、起火等致命風(fēng)險!
分層爆板的元兇
■ 材料缺陷
■ 制程工藝問題
■ 外部環(huán)境挑戰(zhàn)
如何檢測分層爆板?
1. X射線檢測(X-Ray)
原理:X射線具有強穿透性,能穿透PCB的不同材料和結(jié)構(gòu)。由于不同物質(zhì)對X射線吸收和衰減程度不同,原子序數(shù)高、密度大的物質(zhì)吸收多。分層區(qū)域與正常區(qū)域在成像上會有差異,利用X光穿透PCB,捕捉層間空洞、裂紋等缺陷。
用途:用于失效分析無損檢測,精準(zhǔn)定位失效位置。
圖示:X射線檢查空洞
2. 超聲波掃描顯微鏡(SAT)
原理:超聲波掃描顯微鏡發(fā)射的超聲波在遇到 PCB 不同介質(zhì)的界面時,由于不同介質(zhì)的聲阻抗不同,一部分超聲波會反射回來,另一部分則繼續(xù)傳播。通過分析高頻超聲波的反射信號,就可以確定分層的位置和大小。
用途:用于高密度互連板、芯片封裝可靠性驗證,以及PCB生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制。
圖示:超聲波掃描
3. 熱應(yīng)力測試(TST)
原理:將PCB暴露在不同的環(huán)境中,并進行多次的溫度循環(huán)變化,模擬實際使用過程中可能遇到的溫度變化情況。如果PCB中存在潛在的分層缺陷,在反復(fù)的熱應(yīng)力作用下,缺陷可能會逐漸放大或?qū)е缕渌J匠霈F(xiàn),從而加速暴露分層風(fēng)險。
用途:用于預(yù)測PCB長期使用的可靠性,提前淘汰劣質(zhì)板材。
圖示:熱應(yīng)力測試
4. 微切片分析(Cross-Section)
原理:對疑似分層的位置切割成小塊樣本,對其進行鑲嵌、研磨和拋光等處理,使樣本的截面平整光滑,以便后續(xù)使用顯微鏡觀察層間結(jié)合狀態(tài)。
用途:直觀分析失效機理,常用于實驗室深度診斷。
圖示:微切片觀察分層
怎樣預(yù)防分層爆板?
分層爆板是 PCB 的 “隱形殺手”,但只要我們充分了解其成因,運用科學(xué)的檢測技術(shù),嚴(yán)格管控生產(chǎn)工藝,就能夠有效預(yù)防這一問題,保障電子設(shè)備的穩(wěn)定運行。